| German |
| has gloss | deu: Ein Focused Ion Beam (Abk.: FIB; englisch für „fokussierter Ionenstrahl“, deutsch auch Ionenfeinstrahlanlage) ist ein Gerät zur Oberflächenanalyse und -bearbeitung. Steht der Materialabtrag im Vordergrund, heißt das Verfahren auch Ionendünnung. Wenn die Abtastung der Oberfläche des zu untersuchenden Objekts durch den Ionen-Strahl primär als bildgebendes Verfahren eingesetzt wird, dann spricht man auch von einem Focused-Ion-Beam-Mikroskop. |
| lexicalization | deu: Focused Ion Beam |
| French |
| has gloss | fra: La Sonde ionique focalisée, plus connue sous le nom du sigle anglais FIB (Focused ion beam), est un instrument scientifique qui ressemble au microscope électronique à balayage (MEB). Mais là où le MEB utilise un faisceau délectrons focalisés pour faire limage dun échantillon, la "FIB" utilise un faisceau dions focalisés, généralement du gallium. Il est en effet facile de construire une source à métal liquide (LMIS, de langlais liquid metal ion source. Contrairement aux MEB, les FIB sont destructives. Par conséquent, leur domaine dapplications est plus la microfabrication que la microscopie. Les principaux domaines d'applications sont la science des matériaux et en particulier le domaine des semiconducteurs et des circuits intégrés. |
| lexicalization | fra: Sonde ionique focalisee |
| lexicalization | fra: Sonde ionique focalisée |
| Italian |
| has gloss | ita: Il Fascio ionico focalizzato, noto pure come FIB, è una tecnica usata particolarmente nei campi dei semiconduttori e delle scienze dei materiali per analisi puntualizzate, deposizioni, e ablazioni di materiali.Il FIB è uno strumento scientifico che rassomiglia ad un microscopio a scansione elettronico (SEM). Tuttavia, mentre il SEM usa un fascio focalizzato di elettroni per raffigurare il campione nella camera, un FIB invece usa un fascio focalizzato di ioni. Maggiormente diffusi sono gli strumenti facenti uso di sorgenti di ioni di gallio. Il gallio è scelto poiché è facile realizzare una sorgente di ioni di gallio liquido (LMSI). In un LMSI al gallio, il metallo di gallio è posto a contatto con un ago di tungsteno e riscaldato. Il gallio inumidisce il tungsteno, ed un enorme campo elettrico (maggiore di 108 volt per centimetro) fa emettere ed ionizzare gli atomi di gallio. Il FIB può pure essere conglobato in un sistema con entrambe le colonne di ioni ed elettroni, consentendo che lo stesso aspetto sia analizzato usando sia luno che laltro dei fasci . |
| lexicalization | ita: Fascio ionico focalizzato |
| Japanese |
| has gloss | jpn: 集束イオンビーム(FIB,Focused Ion Beam)は、イオンを電界で加速したビームを細く絞ったものである。 集束イオンビームは、微細加工、蒸着、観察などの用途に用いられる。 |
| lexicalization | jpn: 集束イオンビーム |
| Russian |
| has gloss | rus: Сфокусированный ионный пучок(СИП) (англ. Focused ion beam(FIB)) - широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, напыления и травления материалов. Установка для ионного травления напоминает электронный сканирующий микроскоп. В электронном микроскопе используется пучок электронов, тогда как в СИП применяют более тяжелые частицы - ионы (большая кинетическая энергия). Бывают установки, использующие оба вида пучков. Не следует путать СИП с устройством для литографии, где также используется ионный пучок, но слабой интенсивности, а в травлении основным является свойства самого резиста. |
| lexicalization | rus: Сфокусированный ионный пучок |
| Vietnamese |
| has gloss | vie: Chùm iôn hội tụ (tiếng Anh: Focused ion beam, thường được viết tắt là FIB) là kỹ thuật sử dụng trong các ngành vật lý chất rắn, khoa học và công nghệ vật liệu, cho phép tạo các cấu kiện, các lát cắt mỏng, bay bốc, lắng đọng vật liệu bằng cách điều khiển một chùm iôn được gia tốc ở năng lượng cao và được điều khiển để hội tụ trên điểm nhỏ nhờ các hệ thấu kính điện, từ. |
| lexicalization | vie: Chùm ion hội tụ |
| lexicalization | vie: chùm iôn hội tụ |
